Estudio de cerámicas ferroeléctricas de la familia Aurivillius: SrBi2Ta2O9 – Bi3TiNbO9

Muestras en polvo y en películas delgadas del ferroeléctrico (SrBi2Ta2O9)* Bi3TiNbO9) 1-x; para x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 1, fueron preparadas por método estándar de calcinación y por el método de deposición por solución metal-orgánica, respectivamente. Las películas delgadas fueron depositadas sobr...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Eleicer Ching
Formato:	article
Lenguaje:	ES
Publicado:	Editorial Universitaria 2002
Materias:	ferroeléctricos fases aurivillius srbi2ta2o9 bi3tinbo9 modos vibracionales espectrocopia raman difracción de rayos x. Biotechnology TP248.13-248.65
Acceso en línea:	https://doaj.org/article/655d913fde254d55922cb7e63f7212fb
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spelling	oai:doaj.org-article:655d913fde254d55922cb7e63f7212fb2021-11-16T19:40:19ZEstudio de cerámicas ferroeléctricas de la familia Aurivillius: SrBi2Ta2O9 – Bi3TiNbO91680-88942219-6714https://doaj.org/article/655d913fde254d55922cb7e63f7212fb2002-03-01T00:00:00Zhttps://revistas.utp.ac.pa/index.php/id-tecnologico/article/view/116https://doaj.org/toc/1680-8894https://doaj.org/toc/2219-6714Muestras en polvo y en películas delgadas del ferroeléctrico (SrBi2Ta2O9)* Bi3TiNbO9) 1-x; para x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 1, fueron preparadas por método estándar de calcinación y por el método de deposición por solución metal-orgánica, respectivamente. Las películas delgadas fueron depositadas sobre substrato Pt/TiO2/SiO2/Si. El estudio por Espectroscopía Micro Raman revela que las muestras son homogéneas y presentan bandas alrededor de 174, 229, 337, 522, 608, 667 y 839 cm-1 lo cual indica la formación de la fase aurivillius en el material; aunque diferencias relacionadas al grado de cristalización fueron encontradas entre las muestras en polvo y su equivalente en película delgada. Además se presenta y discute la evolución de las bandas Raman con la inclusión del material SBT en la estructura de BTN. En adición, otras técnicas analíticas como Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), Difracción de Rayos X (XRD) y Medición Eléctrica fueron también usadas para caracterizar las muestras y sus resultados son discutidos.Eleicer ChingEditorial Universitariaarticleferroeléctricosfases aurivilliussrbi2ta2o9bi3tinbo9modos vibracionalesespectrocopia ramandifracción de rayos x.BiotechnologyTP248.13-248.65ESRevista de I + D Tecnológico, Vol 1, Iss 1, Pp 35-43 (2002)
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description	Muestras en polvo y en películas delgadas del ferroeléctrico (SrBi2Ta2O9)* Bi3TiNbO9) 1-x; para x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 1, fueron preparadas por método estándar de calcinación y por el método de deposición por solución metal-orgánica, respectivamente. Las películas delgadas fueron depositadas sobre substrato Pt/TiO2/SiO2/Si. El estudio por Espectroscopía Micro Raman revela que las muestras son homogéneas y presentan bandas alrededor de 174, 229, 337, 522, 608, 667 y 839 cm-1 lo cual indica la formación de la fase aurivillius en el material; aunque diferencias relacionadas al grado de cristalización fueron encontradas entre las muestras en polvo y su equivalente en película delgada. Además se presenta y discute la evolución de las bandas Raman con la inclusión del material SBT en la estructura de BTN. En adición, otras técnicas analíticas como Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), Difracción de Rayos X (XRD) y Medición Eléctrica fueron también usadas para caracterizar las muestras y sus resultados son discutidos.
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