Chen, Y. T., Music, D., Shang, L., Mayer, J., & Schneider, J. M. (2017). Nanometre-scale 3D defects in Cr2AlC thin films. Nature Portfolio.
Style de citation Chicago (17e éd.)Chen, Y. T., D. Music, L. Shang, J. Mayer, et J. M. Schneider. Nanometre-scale 3D Defects in Cr2AlC Thin Films. Nature Portfolio, 2017.
Style de citation MLA (8e éd.)Chen, Y. T., et al. Nanometre-scale 3D Defects in Cr2AlC Thin Films. Nature Portfolio, 2017.
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