Richert, D., Morán-Meza, J., Kaja, K., Delvallée, A., Allal, D., Gautier, B., & Piquemal, F. (2021). Traceable Nanoscale Measurements of High Dielectric Constant by Scanning Microwave Microscopy. MDPI AG.
Style de citation Chicago (17e éd.)Richert, Damien, José Morán-Meza, Khaled Kaja, Alexandra Delvallée, Djamel Allal, Brice Gautier, et François Piquemal. Traceable Nanoscale Measurements of High Dielectric Constant by Scanning Microwave Microscopy. MDPI AG, 2021.
Style de citation MLA (8e éd.)Richert, Damien, et al. Traceable Nanoscale Measurements of High Dielectric Constant by Scanning Microwave Microscopy. MDPI AG, 2021.
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