Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-Chip
Este artículo presenta una herramienta de inyección de fallos y la metodología para la realización de campañas de inyección de Single-Event-Upsets (SEUs) en microprocesadores Commercial-off-the-shelf (COTS). Este método utiliza las ventajas que ofrecen las infraestructuras de depuración de los micro...
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| Autores principales: | , , , , |
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| Formato: | article |
| Lenguaje: | ES |
| Publicado: |
Editorial Universitaria
2017
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://doaj.org/article/e6363de25579401497d06314ac7f75b4 |
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