Electrical and dielectric parameters in TiO2-NW/Ge-NW heterostructure MOS device synthesized by glancing angle deposition technique

Abstract This paper reports the catalyst-free coaxial TiO2/Ge-nanowire (NW) heterostructure synthesis using the glancing angle deposition (GLAD) technique integrated into an electron beam evaporator. The frequency and voltage dependence of the capacitance–voltage (C–V) and conductance–voltage (G/ω–V...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: H. Manas Singh, Ying Ying Lim, P. Chinnamuthu
Formato: article
Lenguaje:EN
Publicado: Nature Portfolio 2021
Materias:
R
Q
Acceso en línea:https://doaj.org/article/effad7691a3d4c1ab5e061c4148f8164
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares