RIVEROS,G., GÓMEZ,H, HENRÍQUEZ,R., SSHREBLER,R., CÓRDOVA,R., MAROTTI,R. E, & DALCHIELE,E.A. (2002). ELECTRODEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF ZnX (X=Se, Te) SEMICONDUCTOR THIN FILMS. Sociedad Chilena de Química.
Cita Chicago Style (17a ed.)RIVEROS,G., GÓMEZ,H, HENRÍQUEZ,R, SSHREBLER,R, CÓRDOVA,R, MAROTTI,R. E, y DALCHIELE,E.A. ELECTRODEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF ZnX (X=Se, Te) SEMICONDUCTOR THIN FILMS. Sociedad Chilena de Química, 2002.
Cita MLA (8a ed.)RIVEROS,G., et al. ELECTRODEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF ZnX (X=Se, Te) SEMICONDUCTOR THIN FILMS. Sociedad Chilena de Química, 2002.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.