Enríquez,Francisco J, Sifuentes,Ernesto, Bravo,Gabriel, & Castro,Arnulfo. (2016). Sistema Embebido para Validar el Funcionamiento de la Tarjeta de Adquisición de Datos USB-6009 de National Instruments. Centro de Información Tecnológica.
Cita Chicago Style (17a ed.)Enríquez,Francisco J, Sifuentes,Ernesto, Bravo,Gabriel, y Castro,Arnulfo. Sistema Embebido Para Validar El Funcionamiento De La Tarjeta De Adquisición De Datos USB-6009 De National Instruments. Centro de Información Tecnológica, 2016.
Cita MLA (8a ed.)Enríquez,Francisco J, et al. Sistema Embebido Para Validar El Funcionamiento De La Tarjeta De Adquisición De Datos USB-6009 De National Instruments. Centro de Información Tecnológica, 2016.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.