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1
Processing-Structure-Protrusion Relationship of 3-D Cu TSVs: Control at the Atomic Scale
par
Jinxin Liu
,
Zhiheng Huang
,
Paul P. Conway
,
Yang Liu
Publié 2019
Sujets:
“
...
reliability
modeling
...
”
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2
A Review of Data Centers Energy Consumption and Reliability Modeling
par
Kazi Main Uddin Ahmed
,
Math H. J. Bollen
,
Manuel Alvarez
Publié 2021
Sujets:
“
...
reliability
modeling
...
”
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DOAJ
2
Format
article
2
Auteur
Jinxin Liu
1
Kazi Main Uddin Ahmed
1
Manuel Alvarez
1
Math H. J. Bollen
1
Paul P. Conway
1
Yang Liu
1
Zhiheng Huang
1
Langue
EN
2
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