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Traceable Nanoscale Measurements of High Dielectric Constant by Scanning Microwave Microscopy
por
Damien Richert
,
José Morán-Meza
,
Khaled Kaja
,
Alexandra Delvallée
,
Djamel Allal
,
Brice Gautier
,
François Piquemal
Publicado 2021
Materias:
“
...
least
square
adjustment
method
...
”
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Alexandra Delvallée
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