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Ahmad Fakhri Ab. Nasir
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1
Evaluation of the machine learning classifier in wafer defects classification
por
Jessnor Arif Mat Jizat
,
Anwar P.P. Abdul Majeed
,
Ahmad
Fakhri
Ab
.
Nasir
,
Zahari Taha
,
Edmund Yuen
Publicado 2021
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