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Efstathios K. Polychroniadis
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1
Identification of stacking faults in silicon carbide by polarization-resolved second harmonic generation microscopy
por
Radu Hristu
,
Stefan G. Stanciu
,
Denis E. Tranca
,
Efstathios
K
.
Polychroniadis
,
George A. Stanciu
Publicado 2017
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