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John Edward Bowers
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1
A Review of the Reliability of Integrated IR Laser Diodes for Silicon Photonics
por
Matteo Buffolo
,
Carlo De Santi
,
Justin Norman
,
Chen Shang
,
John
Edward
Bowers
,
Gaudenzio Meneghesso
,
Enrico Zanoni
,
Matteo Meneghini
Publicado 2021
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