Nanometre-scale 3D defects in Cr2AlC thin films

por Y. T. Chen, D. Music, L. Shang, J. Mayer, J. M. Schneider
Publicado 2017

Electrically reversible cracks in an intermetallic film controlled by an electric field

por Z. Q. Liu, J. H. Liu, M. D. Biegalski, J.-M. Hu, S. L. Shang, Y. Ji, J. M. Wang, S. L. Hsu, A. T. Wong, M. J. Cordill, B. Gludovatz, C. Marker, H. Yan, Z. X. Feng, L. You, M. W. Lin, T. Z. Ward, Z. K. Liu, C. B. Jiang, L. Q. Chen, R. O. Ritchie, H. M. Christen, R. Ramesh
Publicado 2018