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1
Voltage-induced Interface Reconstruction and Electrical Instability of the Ferromagnet-Semiconductor Device
por
Shu
-
Jui
Chang
,
Po-Chun Chang
,
Wen-Chin Lin
,
Shao-Hua Lo
,
Liang-Chun Chang
,
Shang-Fan Lee
,
Yuan-Chieh Tseng
Publicado 2017
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