Mostrando 1 - 2 Resultados de 2 Para Buscar 'V. Thiel', tiempo de consulta: 0.01s Limitar resultados
  1. 1
    Single-Sided Microwave Near-Field Scanning of Pine Wood Lumber for Defect Detection
    Enlace del recurso
    article
    Agregar a favoritos
    Guardado en:
  2. 2
    Quantum enhanced measurement of an optical frequency comb
    por Y. Cai, J. Roslund, V. Thiel, C. Fabre, N. Treps
    Publicado 2021
    Enlace del recurso
    article
    Agregar a favoritos
    Guardado en:
Herramientas de búsqueda: RSS — Enviar por Correo electrónico esta Búsqueda — Guardar Búsqueda