Optical Characterization of H-Free <i>a</i>-Si Layers Grown by rf-Magnetron Sputtering by Inverse Synthesis Using Matlab: Tauc–Lorentz–Urbach Parameterization

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Descripción completa

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Emilio Márquez, Juan J. Ruíz-Pérez, Manuel Ballester, Almudena P. Márquez, Eduardo Blanco, Dorian Minkov, Susana M. Fernández Ruano, Elias Saugar
Formato: article
Lenguaje:EN
Publicado: MDPI AG 2021
Materias:
Acceso en línea:https://doaj.org/article/0ebc5b8c66e84f9288485abf11e804db
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