Recognizing the benefits and pitfalls of reflectance confocal microscopy in melanoma diagnosis
Guardado en:
Autores principales: | , |
---|---|
Formato: | article |
Lenguaje: | EN |
Publicado: |
Mattioli1885
2014
|
Materias: | |
Acceso en línea: | https://doaj.org/article/197659728d704cac8496a5782a5811e5 |
Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|