An Early-Life NAND Flash Endurance Prediction System

NAND flash memory – ubiquitous in today’s world of smart phones, SSDs (solid state drives), and cloud storage – has a number of well-known reliability problems. NAND data contains bit errors, which require the use of error correcting codes (ECCs). The raw bit error r...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Barry Fitzgerald, Conor Ryan, Joe Sullivan
Formato: article
Lenguaje:EN
Publicado: IEEE 2021
Materias:
Acceso en línea:https://doaj.org/article/80274b70c9ca43afbe723930c694608e
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