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1
Coherent X-ray measurement of step-flow propagation during growth on polycrystalline thin film surfaces
por
Randall L. Headrick
,
Jeffrey G. Ulbrandt
,
Peco
Myint
,
Jing Wan
,
Yang Li
,
Andrei Fluerasu
,
Yugang Zhang
,
Lutz Wiegart
,
Karl F. Ludwig
Publicado 2019
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