An Early-Life NAND Flash Endurance Prediction System
NAND flash memory – ubiquitous in today’s world of smart phones, SSDs (solid state drives), and cloud storage – has a number of well-known reliability problems. NAND data contains bit errors, which require the use of error correcting codes (ECCs). The raw bit error r...
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , , |
|---|---|
| Format: | article |
| Langue: | EN |
| Publié: |
IEEE
2021
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://doaj.org/article/80274b70c9ca43afbe723930c694608e |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Soyez le premier à ajouter un commentaire!