Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Ju-Won Shin', Temps de recherche: 0,30s Affiner les résultats
  1. 1
    Author Correction: A quantitative approach for trap analysis between Al0.25Ga0.75N and GaN in high electron mobility transistors
    Accéder au texte intégral
    article
    Ajouter aux favoris
    Enregistré dans:
  2. 2
    A quantitative approach for trap analysis between Al0.25Ga0.75N and GaN in high electron mobility transistors
    Accéder au texte intégral
    article
    Ajouter aux favoris
    Enregistré dans:
Outils de recherche: S'abonner aux flux RSS — Envoyer cette recherche par courriel — Enregistrer la recherche