Author Correction: A quantitative approach for trap analysis between Al0.25Ga0.75N and GaN in high electron mobility transistors

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Walid Amir, Ju‑Won Shin, Ki‑Yong Shin, Jae‑Moo Kim, Chu‑Young Cho, Kyung‑Ho Park, Takuya Hoshi, Takuya Tsutsumi, Hiroki Sugiyama, Hideaki Matsuzaki, Tae‑Woo Kim
Format: article
Langue:EN
Publié: Nature Portfolio 2021
Sujets:
R
Q
Accès en ligne:https://doaj.org/article/e9fc89a38b0c4ba2b1939ae82fa6fb02
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!